Nejistota a návaznost výsledků spektroskopických metod : základní kurz
Obsah: Nejistota výsledků chemických měření (Plzák Z.) - Chyba a nejistota (Štěpánek V.) - Validace analytické metody (Suchánek M.) - Návaznost výsledků chemických měření (Kučera J.) - Národní schéma návaznosti v chemii (Suchánek M.) - Role ČMI v oboru chemické metrologie (Tichý J.) - Nejistoty vzor...
Uloženo v:
| Médium: | Kniha |
|---|---|
| Vydáno: |
Praha :
Vysoká škola chemicko-technologická v Praze : Spektroskopická společnost Jana Marka Marci,
2001
|
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Shrnutí: | Obsah: Nejistota výsledků chemických měření (Plzák Z.) - Chyba a nejistota (Štěpánek V.) - Validace analytické metody (Suchánek M.) - Návaznost výsledků chemických měření (Kučera J.) - Národní schéma návaznosti v chemii (Suchánek M.) - Role ČMI v oboru chemické metrologie (Tichý J.) - Nejistoty vzorkování - odpadní vody (Bernáth P.) - Nejistoty měření metodou ICP-MS (Mestek O. - Komínková J.) - Stanovení obsahu mědi ve vzorcích zemin metodou ICP-OES - hodnocení nejistot (Šperková J.) - Stanovení arsenu a kadmia v játrech metodami HG-AAS, resp. ICP-OES, vyhodnocení nejistot (Pavelka J. - Peřina L.) - O nejistotách v optické emisní spektrometrii s buzením v doutnavém výboji (GD-OES) (Weiss Z.) - K problematice nejistot stanovení nízkých obsahů prvků pomocí AAS (Šubrt P.) - Germaniový spektrometr jako sekundární etalon aktivity - vyhodnocení nejistot v gama spektrometrii (Dryák P.) - Nejistota výsledků v neutronové aktivační analýze (Kučera J.) - Zdroje nejistoty výsledků v metodě PIXE (Havránek V.) - Nejistoty při stanovení organických kontaminantů v biologických matricích metodou GC/MS - stanovení residuí pesticidů v extraktech špenátu (Hajšlová J. - Kocourek V.). |
|---|---|
| Fyzický popis: | 198 s. : il., tab., sezn. lit. |